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高通字库芯片顺利通过“低温测试”

来源:上海高通半导体有限公司 时间:2017-12-06 返回列表
2010年11月25日,我公司GT21D16S1Y标准点阵字库芯片顺利通过“低温工作环境测试”,在零下400 C 的极端低温工作环境下,连续无故障、无损坏工作168小时以上,充分证明了高通字库芯片可广泛使用于我国北方地区户外低温环境,满足军事、车辆、工控仪表等行业的环境温度特点。